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科研热点
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XRF 分析替代 ICPICP是一种高精度分析技术，可以检测样品中微量物质。然而，该技术非常复杂，必须由专家执行，并使用需要定期校准和维护的精密设备。尽管ICP测试本身速度很快，但样品48 0 -
什么是差示扫描量热法（DSC）？差示扫描量热法(DSC)是一种热分析技术，其中，当样品和参比物受到相同的温度控制程序时，测量流入样品和参比物的热流速率之间的差异作为温度或时间的函数。例如，当样52 0
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什么是动态机械分析 (DMA)？DMA（动态机械分析）测量材料（主要是聚合物）在振荡负载（应变或应力）下随时间保持不变的粘弹性。其主要用于检测玻璃化转变，但也可用于测量二次转变、材料刚度、固化50 0
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动态光散射 (DLS) - 常见问题解答什么是动态光散射（DLS）？动态光散射是一种广泛使用的粒度测量方法。它特别适合表征纳米材料。确定液体中粒子的布朗运动（扩散系数），并通过斯托克斯-爱因斯坦方程获60 0
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为什么 SEM 成像要使用低加速电压？扫描电子显微镜(SEM)的功能是使用聚焦电子束对样品进行光栅扫描，从而生成样品表面的高分辨率图像。样品与电子束相互作用产生的信号受多种因素的影响，包括电子束的能52 0
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液体接触角测量接触角定义为液体在液体、固体和气体相交的三相边界处形成的角度。它可以快速、定量地测量表面的润湿性。这些特性可以洞察固体表面与液体的相互作用，例如其与涂层的粘附性48 0
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从光子到电子：光学和电子显微镜显微镜是一种技术，它使我们能够以人眼无法看到的长度尺度观察物质。两种最常见的显微镜技术是光学显微镜(OM)和电子显微镜(EM)。每种方法都基于不同的原理，具有不44 0
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SEM 中的二次电子：解锁纳米级表面洞察在扫描电子显微镜(SEM)中，二次电子(SE)在揭示纳米级材料表面细节方面起着关键作用。了解二次电子是什么、它们是如何产生的以及它们提供什么样的信息对于任何对材47 0
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透射电子显微镜（TEM)常见问答一、一个样品会提供几张图片？默认拍摄逻辑如何？每样品15张左右，具体根据样品的拍摄情况而定；拍摄逻辑一般是选取2-3个有代表性的区域，具体区域逐级放大拍摄。比如48 0
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一文带你全面了解—透射电子显微镜（TEM)原理及应用透射电子显微镜(TEM)是一种用于观察物质中最小结构的分析技术。与依赖可见光谱中的光的光学显微镜不同，TEM可以通过将纳米结构放大5000万倍来揭示原子尺度的惊43 0
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原子吸收光谱法（AAS）原理介绍与文献解读原子吸收光谱法（AAS），又称原子吸收分光光度法；是一种基于原子吸收原理的分析仪器，用于测定样品中特定元素的含量。AAS利用原子化器将样品中的元素转化为原子状态48 0
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一文带你全面了解—X射线荧光光谱仪（XRF）原理及应用X射线荧光光谱分析法（XRF）利用高能X射线与样品中原子发生作用的原理来确定样品中元素的组成和含量。X射线源（通常为X射线管）产生高能量的X射线，这些X射线穿透52 0