场发射透射电镜(TEM)主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成的分析和研究，不适用于有机和生物材料；表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等；成像：衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像；微区成分：EDS 能谱的点、线和面分析，电子选区衍射。

样品要求

注意：TEM云现场/现场机时有限，下单前请先联系您专属技术顾问，沟通拍摄要求并接受周期后再下单！若样品易变质请提前联系项目老师沟通寄样安排。

1，尽管为云视频订单，为了方便工程师在拍摄前了解清楚样品情况及拍摄要求，请务必下单时写明样品组成，尽量不要只以C、N、Si等元素来描述，选择全所有需要的测试项目，上传参考图。

2，粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）

3，样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；

4，一般制样选微珊铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等；

5，强磁样品请务必提前确定机时；

6，收费项目包含制样+拍摄，拍摄以实际时长为准，多退少补；第一个样品抽真空的时间不计算在内，其余样品抽真空时间包含在内。

7，磁性样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样；请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁 或者 以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；且须赔偿原订单金额的两倍费用！!