电子背散射衍射（Electron Backscattered Diffraction，简称EBSD）是一种在扫描电子显微镜（SEM）上应用的晶体学分析技术，当电子束与样品相互作用时产生的背散射电子，电子束照射到样品表面时，样品中的原子会散射这些电子，产生衍射花样，从而对晶体快速而准确的进行取向测量的分析工具，主要用于表征材料的微观结构，包括晶体取向、晶粒大小、晶界类型以及相分布等。

原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是一种高分辨率成像技术，利用一个非常尖锐的探针（通常为硅或硅氮化物制成）扫描样品表面，探针与样品表面之间的相互作用力（如范德华力、磁力、静电力等）会引起探针的微小位移。探针的位移通过激光反射或压电陶瓷传感器测量，并通过反馈控制系统调整探针的位置，保持恒定的相互作用力，从而获得样品表面的形貌信息。

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种使用透射电子束来获取样品内部结构图像的高分辨率显微镜，广泛应用于材料科学、生物学、化学、地质学等领域，用于研究材料的微观结构和性质。 "云现场"实验允许用户通过电脑或移动设备，在任何时刻、任何地点轻松启动或加入实验流程，实现信息的即时共享与协作。实验过程中，用户能够实时观看测试仪器的屏幕，并与指导老师进行一对一的交流，选择拍摄区域，确保所观察到的与实际实验情景一致，提供近乎亲临现场的实验体验。

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy, SEM）是一种利用电子束扫描样品表面，通过样品与电子束相互作用产生的信号来获取样品表面形貌和成分信息的高分辨率显微镜，主要用于研究材料的微观结构、元素分析、表面形貌观察等。"云现场"实验允许用户通过电脑或移动设备，在任何时刻、任何地点轻松启动或加入实验流程，实现信息的即时共享与协作。实验过程中，用户能够实时观看测试仪器的屏幕，并与指导老师进行一对一的交流，选择拍摄区域，确保所观察到的与实际实验情景一致，提供近乎亲临现场的实验体验。