参考各类标准，测试样品的透气/透氧/透湿性能。透湿标准部分列举：GB/T12704.1织物透湿性试验之吸湿法：适用于厚度在10mm以内的各类织物，不适用于透湿率

化学吸附分析，包括程序升温脱附（Temperature Programmed Desorption, TPD）、程序升温还原（Temperature Programmed Reduction, TPR）和程序升温氧化（Temperature Programmed Oxidation, TPO），是一系列用于研究催化剂和材料表面性质的实验技术。 程序升温脱附（TPD）：样品在一定温度下与吸附质接触，达到饱和吸附后，将系统进行程序升温，同时测量从样品表面脱附的气体量。用于确定催化剂表面的吸附能力和吸附质的结合强度，分析催化剂的活性位点。 程序升温还原（TPR）：在惰性气体或还原性气体（如H2）中，将含有催化剂的样品进行程序升温，测量还原过程中消耗的气体量。用于研究催化剂的还原特性，如氧化态金属的还原温度和还原能力，评估催化剂的还原活性。 程序升温氧化（TPO）：样品在氧气或其他氧化性气体中进行程序升温，测量氧化过程中的气体消耗或生成量。用于分析材料的氧化稳定性和氧化过程，研究催化剂的失活机理。

荧光光谱分为激发光谱（PLE）和发射光谱（PL）。激发光谱：固定发射光的波长，改变激发光的波长，记录荧光强度随激发波长的变化；发射光谱：固定激发光的波长，改变发

X射线光电子能谱（XPS）是一种表面分析技术，它使用具有一定能量的X射线照射固体样品，光子被吸收后将其能量转移给原子的电子，电子获得能量后发射出来成为光电子，测量从材料表面发射出的光电子的能量来确定样品的化学成分和元素的化合状态，同时还可以进行半定量分析和深度剖析。

原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是一种高分辨率成像技术，利用一个非常尖锐的探针（通常为硅或硅氮化物制成）扫描样品表面，探针与样品表面之间的相互作用力（如范德华力、磁力、静电力等）会引起探针的微小位移。探针的位移通过激光反射或压电陶瓷传感器测量，并通过反馈控制系统调整探针的位置，保持恒定的相互作用力，从而获得样品表面的形貌信息。

傅里叶变换红外光谱（Fourier Transform Infrared Spectroscopy, FT-IR）是一种利用红外光谱进行化学成分分析的技术，基于分子振动的原理，当分子中的化学键受到红外辐射时，如果辐射的能量与化学键的振动频率相匹配，就会发生能量吸收，导致分子振动状态的改变。仪器首先收集来自样品的干涉图（干涉仪产生的光的相位差），然后通过傅里叶变换将时域信号转换为频域信号，即得到样品的红外光谱。FT-IR通常覆盖中红外区域（大约4000-400 cm⁻¹），这个区域包含了大多数有机和无机材料的特征吸收峰。

X射线衍射仪（X-ray Diffraction, XRD）是一种用于分析材料晶体结构的重要仪器。当X射线照射到晶体材料时，如果晶体的原子排列满足布拉格定律（nλ = 2d sinθ），X射线会被散射并在特定角度上产生相长干涉，形成衍射峰。 布拉格定律：描述了衍射条件的数学关系，其中n是衍射级数，λ是X射线的波长，d是晶体中相邻晶面之间的距离，θ是入射X射线与晶面的夹角。XRD通过测量不同角度下的衍射强度，可以得到衍射图谱，该图谱包含了材料晶体结构的关键信息。通过分析衍射图谱，可以确定材料的晶格参数、晶体取向、晶粒大小和晶体缺陷等。

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy, SEM）是一种利用电子束扫描样品表面，通过样品与电子束相互作用产生的信号来获取样品表面形貌和成分信息的高分辨率显微镜，主要用于研究材料的微观结构、元素分析、表面形貌观察等。

Zetasizer Nano 系列仪器能够提供液体介质中粒子或大分子的三种特性。这三种基本参数是：粒径、Zeta 电位和分子量。Zetasizer 系统中采用了多种独特技术，使我们能够在一个比较宽的浓度范围内测量这三种参数。Zetasizer 系列仪器的主要特点是：测试前自动进行光路调准，可设置的测量位置，精确的温度控制，这些操作使得测量具有极高的重复性和精确度。此外，仪器还能测量其它重要参数，如 pH和浓度。

紫外-可见光谱（Ultraviolet-Visible Spectroscopy, UV-VIS）和近红外光谱（Near-Infrared Spectroscopy, NIR）是两种利用电磁光谱中不同波段进行化学分析和物质鉴定的技术。紫外-可见光谱和近红外光谱技术因其快速、灵敏和无损的特点，在化学分析和材料表征中发挥着重要作用。UV-VIS适用于分析小分子和染料等物质，而NIR则特别适用于分析大分子和复杂的生物材料。

电子背散射衍射（Electron Backscattered Diffraction，简称EBSD）是一种在扫描电子显微镜（SEM）上应用的晶体学分析技术，当电子束与样品相互作用时产生的背散射电子，电子束照射到样品表面时，样品中的原子会散射这些电子，产生衍射花样，从而对晶体快速而准确的进行取向测量的分析工具，主要用于表征材料的微观结构，包括晶体取向、晶粒大小、晶界类型以及相分布等。

荧光光谱分为激发光谱（PLE）和发射光谱（PL）。激发光谱：固定发射光的波长，改变激发光的波长，记录荧光强度随激发波长的变化；发射光谱：固定激发光的波长，改变发