霍尔效应测试仪是一种用于测量半导体材料的电学性质精密科学仪器，该仪器基于霍尔效应原理，当导电材料置于垂直于电流方向的磁场中时，会在材料中产生一个垂直于电流和磁场的电压差，即霍尔电压。通过测量材料在不同温度、磁场下霍尔电压和其他相关参数，霍尔效应测试仪能够确定材料的载流子类型（n型或p型）、载流子浓度、迁移率和电阻率等信息，进而得到测试材料的电学特性。
PPMS测试霍尔效应，可测温度范围是4-400K；霍尔测试仪可测温度范围是室温-200℃； 寄样之前最好先用万能表测试一下，样品是否可以导通；如果样品带有基底，基底一定不能导电

样品要求

必须是薄膜（做在基底上面的薄膜也可以，基底不能有导电性），薄片，或者粉末压片（自己压制成合适尺寸）（一般都是半导体材料）
如果是做在基底上面的薄膜，那么薄膜要稍微厚一点，薄膜的厚度需要自己确认好，包括纯薄膜的厚度以及薄片或者压片的厚度都要确认好，到时候测试时需要输入仪器进行计算的。
粉末样品：提供4ml体积样品
样品尺寸要求：8-11mm见方的圆片或者方片（最好是10mm见方的尺寸），导电层厚度在10-500nm之间最佳，整体厚度不超过2mm，样品需要均匀、平整，不能有孔洞、褶皱等缺陷
样品电阻不要超过200MΩ；当样品电阻超过100Ω时，需要制备金属电极，金属电极共四个，位于正四边形的四个顶角处，由实验室制作。