小角X射线散射（SAXS）和掠入射小角X射线散射（GISAXS）是分析1nm-0.1µm结构的强有力手段。

SAXS主要关注于尺寸分布在R空间的分析，包括粒径分布、分形维数等

GISAXS则侧重于表面和界面的研究，如粗糙度和多层膜的表征

这两种技术还能提取电子密度相关函数、回转半径等信息，进而揭示材料的内部结构和性能之间的关系。因为该技术源于被辐照样品内部的电子密度涨落，所以可以分析散射中包含的与散射体形状、尺寸有关的几何结构信息；也能分析散射体的含量信息，即不同尺度的散射体的体积分数。

样品要求

提供测试仪器型号、探测器型号、测试距离、原始数据等

请明确需要计算和分析的图像和指标，以及详细样品信息（例如成分、含量、形貌、密度等），可提前沟通，若不能详细提供，不能保证计算出所需指标及其合理性

对于数据结果提供简单说明，也接受反馈答疑和参考文献推荐，不提供插入文献的解释说明，不对数据和样品进行过度解释，请了解！

对距离分布函数（PDDF）

回转半径（Rg）