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原位XPS
仪器型号:
美国-赛默飞ESCALAB 250Xi,日本-Shimadzu-AXISSupra+,Omicron Sphera II
预约次数:
2450次
服务周期:
7.5个工作日
项目介绍

原位XPS(原位X射线光电子能谱)是一种先进的表面分析技术,可以在特定环境条件(如高低温、气氛控制等)下实时监测材料表面的化学状态和电子结构,进而提供更真实的材料行为信息。

 

样品要求

粉末样品:提供50mg,量少请用称量纸包好再装到管子里寄送
块状/薄膜:长宽厚不超出5*5*3mm
液体样品:需制好样干燥后再测试
特别注意
①原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号!元素窄谱测试默认测最强峰轨道,H、He元素不可以测试,元素Li-Mg测试1s轨道,Al-Zn测试2p轨道,Ga-Dy测试3d轨道,Ho-Lu测试4d轨道,Hf-Cm测试4f轨道。如有特殊要求请备注
②XPS是高真空环境测试的,所以要求样品要充分干燥,易吸湿样品请提前说明,干燥不充分的样品、多孔材料、样品尺寸比较大的,抽真空时间会相对比较长;
③易氧化的样品建议手套箱制样,也请抽真空后送样
④不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品;
⑤样品含有放射性元素请提前说明
⑥块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样,接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染,测试结果可能会有误差
结果展示



常见问题
  • 原位光照XPS的原理是什么?

    原位光照XPS是在测试过程时引入了能够激发光催化剂产生光生载流子的光源。

  • 每种元素的检测限一样么?

    不一样。每种元素的主峰的灵敏度因子都不一样。

  • XRD能测到,为什么xps测不到?

    XRD是本体分析,XPS是表面分析,两者获得的成分信息深度不同,没有可比性。

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赵工 15757137609
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