可达到亚埃级，常用于纳米材料精准表征，获取微观原子排布，微区结构和元素分布信息。可得到高分辨率像(HRTEM)，单原子图像，haddf(高角环形暗场)，eels(电子能量损失谱), mapping等

（1）HRTEM：高分辨透射电子显微镜 (HRTEM) 模式利用球差的高分辨率能力，可以观察晶体内部的原子排列、晶体缺陷等微观结构

（2）HAADF：通过收集高角度散射的电子成像，具有高衬度和高分辨率，特别适合观察重元素样品，例如金属和矿物

（3）EELS：电子能量损失谱 (EELS) 可以分析样品的化学信息，例如元素价态、成键类型、电子结构等，结合球差的高分辨率，还可以进行纳米尺度的化学分析

（4）MAPPING：对样品进行元素分布 Mapping 分析，可以获得样品中不同元素的空间分布信息，用于成分分析和材料表征

（5）IDPC：低剂量直接相位对比成像 (iDPC) 技术可以在低剂量条件下获得高对比度和高信噪比的图像，特别适合观察易受电子束损伤的样品，例如生物样品

样品要求

块体用FIB制样，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右

纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样

含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性

粉体制样用微栅或者超薄碳膜；块体需要经过FIB、离子减薄等制样后方可上机测试

所有的样品拍摄之前需要用高分辨TEM预观察，确保样品制备成功

强磁样品请联系您专属技术顾问，确认可测试后，再预约下单