一、 一个样品会提供几张图片？默认拍摄逻辑如何？

每样品15张左右，具体根据样品的拍摄情况而定；拍摄逻辑一般是选取2-3个有代表性的区域，具体区域逐级放大拍摄。

比如拍摄高分辨形貌，既有高分辨也有低倍形貌图，从低倍到高倍分别在比如5nm、10nm、20nm、50nm、100nm、200nm、500nm分别拍摄一张图片，拍摄2-3个代表性位置，一共提供15张左右图，具体放大备注/标尺根据实际样品大小做出调整，若有特殊要求则按照要求拍摄。

二、 JPG、TIFF、DM3的区别是什么？

JPG和TIFF均是图片格式，可以直接打开，也可以用DM软件处理； DM3格式是Gatan公司的特有格式，配有DM软件打开分析处理。

三、样品DLS测出的粒径是10nm，为啥TEM测出来的是20nm？

测试原理不同，TEM为图片结果，是样品真实形貌，其他测试由曲线得出的颗粒尺寸为计算值。

四、样品为异质结类样品，两相晶格没拍出来或拍出效果不好的原因是什么？

可能是因为其中一相的晶体不是很好，拍摄时长时间照射，转化为非晶体了，即如需在一张照片里拍出两种晶格，需要样品交界处结晶性较好，且耐电子束，一般双相可以拍出，但三相较难在一张图片里呈现

五、形貌图片或高分辨图片，不清楚，比较糊的原因是什么？

①、样品含有机物或有磁性，高压下抖动比较厉害，很难抓拍出好的效果；

②、样品颗粒大且厚，没有薄区；（备注：一般看形貌，要求样品厚度小于100nm，看高分辨或晶格，样品厚度要小于5-10nm）

③、衬度不好

备注：TEM衬度是指在正焦或微微欠焦状态下样品的清晰度，即样品跟背景的反差，主要影响因素有：

（1）样品厚度（越薄越好，要求100nm以下）；

（2）样品含有的元素序数（元素序数大的好一些）；

（3）电镜自身分辨率；

（4）部分分散剂如甲苯、丙酮等，也会导致衬度较低）。

高分辨比常规形貌，对样品的磁性、厚度、稳定性等要求更高，影响也更大。

六、高分辨图片，给到的晶格条纹效果不好的原因是什么？

1、样品结晶性不好，晶格就会不清楚；

2、衬度不好，衬度是指样品跟背景的反差，金、银等金属的晶格会相对强一些，但像碳之类的，晶格会弱一些，一般晶格不清楚都是轻的元素，重的元素还好；

3、仪器本身原因，无法控制，高倍下图片一直在抖，不是保持不变，老师根据经验抓拍，一般会多拍几张筛选后数据才发过来；

4、对高分辨要求较高，比如要求2nm晶格且分辨率很高，建议尝试球差，常规电镜一般可拍摄最小标尺5nm左右，实际拍摄效果跟样品有关。

七、给到的形貌图团聚，没有分散或单颗图片的原因是什么？

如果测试单写明要求拍单颗或分散比较好的形貌，但给到的仍是团聚图片，多半是因为样品团聚比较厉害，无法超声开，具体可与科学指南针工作人员确认。

像量子点样品，或一个视野要求看到几十个颗粒，为方便老师测试，最好由客户自己提供对应浓度和超声时间（先在低倍下尝试，根据低倍的图片来调整浓度），不然测试时很难提供到合适的浓度。

八、能谱数据，mapping效果不好

mapping与样品厚度、样品对于电子束是否敏感关系较大

1. 样品厚度太大，mapping扫不出信号，一般300-30nm比较好；

2. 样品是有机物（不建议做MAPPING，做高分辨也不是很合适，容易被电子束打坏），扫久了会积碳，会拍不了；

3. 样品是磁性样品，能谱分1代能谱和2代能谱，因为磁性样品对仪器有损伤，一般愿意给拍磁性样品的仪器会相对老一些，配的能谱基本都是1代能谱，马赛克点比较大，较糊。

九、对于包裹类大颗粒物质，未拍到包覆层形貌或者高分辨包覆层形貌

1. 未包覆成功或者包覆很少，拍摄时候很难找到包覆层形貌；

2. 样品颗粒太大，厚度较厚，很难拍摄到。

十、明场像与暗场像成像的区别？

明场像成像是将衍射束遮挡住，只让透射束参与成像；暗场像成像是将透射束遮挡住，只让一束较强的衍射束成像。由此可知，只有含有晶体类物质衍衬像，才存在明暗之分。

十一、影响TEM成像的因素有哪些？

主要有相位衬度（相位差引起）、振幅衬度（包括质厚衬度、衍射衬度），一般测试中主要考虑质厚衬度（质量、厚度），其中厚度又是主要的因素。

十二、拍摄TEM样品，分辨效果不好有哪些原因？

可能是样品太厚，TEM样品厚度大于100nm时，电子束不易穿透，导致效果不好；

可能样品稳定性太差，拍摄高分辨的时候样品易发生变化，导致拍摄只能以抓拍形式，清晰度会受影响，或者拍摄过程中样品直接消失（例：拍摄由水热法产生的碳的量子点，低倍时能看到量子点，在高倍拍摄晶格条纹时样品在聚焦未完成时就消失了，在同一位置再调节到低倍拍摄，发现量子点消失）。

十三、TEM和SEM在成像上的区别

TEM的成像利用的是透射电子，加速的电子可以穿透薄膜样品进入探测屏，进而由于质厚衬度（样品的元素类型、元素含量和尺寸厚度不同）和衍射衬度（晶体的取向不同）产生图像的衬度。

SEM的成像利用的是反射电子（二次电子），加速的电子经过样品的反射进入探测屏，由于样品表面凹凸不平，也就是倾斜角度不一样，进入到探测屏的电子密度情况不一样，进而形成图像衬度。

前置背散射图像中，也会涉及到元素的类型和含量不一样，对电子的散射不一样，图像也会产生衬度。除此之外还有俄歇电子图像也能反映元素的类型和含量不一样，进而图像也能产生衬度。

十四、为什么透射电镜没有颜色

颜色是由光的颜色决定的,也就是电磁波的频率决定的

而电子显微镜的光不是自然光，而是电子束光源，所以显示不出来五彩斑斓的色彩。

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm

十五、TEM铜网和微栅的区别

TEM铜网平常做透射电镜所用的铜网，即为承载样品的载网。载网若是铜材质，就称铜网，如果是镍、钼、金、尼龙，就相应的称镍网、钼网、金网、尼龙网。铜网也称“裸网”。主要应用在生物制样中，可配合切片机，在水槽中用“裸网”捞取样品。再进行喷碳处理，然后进入电镜观察。

微栅支持膜微栅是支持膜的一个品种，它是在制作支持膜时，特意在膜上制作的微孔，所以也叫“微栅支持膜”，它也是经过喷碳的支持膜，一般膜厚度为15-30nm。它主要是为了能够使样品搭载在支持膜微孔的边缘，以便使样品“无膜”观察。无膜的目的主要是为了提高图像衬度。

所以，观察管状、棒状、纳米团聚物等，常用“微栅”支持膜，效果很好。特别是观察这些样品的高分辨像时，更是最佳的选择。

测试中捞样品常用的有碳支持膜和小孔微栅，小孔微栅上其实也有一层超薄的碳膜。拍高分辨的，试样的厚度最好要控制在20nm以下，所以一般直径小于20nm的粉体才直接捞，颗粒再大则是包埋后离子减薄。

超薄碳膜也是支持膜的一种。它是在微栅的基础上，叠加了一层很薄的碳膜，一般3-5nm。这层超薄碳膜的目的，是用薄碳膜把微孔挡住。既然微栅观察效果最好，为什么还要把孔挡住呢?这主要是针对那些分散性很好的纳米材料，如：10nm以下的样品，分散性极好的样品。