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原子力显微镜（AFM）-特殊模式
仪器型号：
Bruker Dimension ICON；Bruker Multimode 8；牛津MFP-3D infinity；牛津 CypherES等
预约次数：3197次
服务周期：7个工作日
项目介绍原子力显微镜（AFM）是一种高分辨成像技术，将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的相互作用力（如：范德华力、磁力、静电力等），通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
测试PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的样品需要导电或至少为半导体
PFM，KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200nm之间，粉末样品测试很难测到较好结果，下单前请确保风险可接受。
样品要求
1、粉末样品不少于20mg(需说明制样方法)
2、液体样品不少于1mL(液体制样后测试，无法直接测试液态或含液体的样品，也需说明制样方法)
3、块体及薄膜样品，长宽小于30mm，厚度不超过10mm(请务必标记好测试面)；块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果！
4、特别注意：块体及薄膜样品需表面平整、起伏不超过5um
5、对厚度有要求的纳米片样品，或生物DNA类样品，请一律预约AFM-云视频项目
6、如有其他疑问，请联系对接的技术顾问
结果展示
常见问题-
AFM 测试有些样品（例：细菌+不锈钢基体）表面电势时，为何同一个样品不同 位置测试的电势差别特别大？
这个和样品的均匀性有关，样品表面电势测试出来是多少就是多少，不可人为控制。由于AFM 测试电势是个很复杂的过程，受环境和仪器状态的影响很大，建议若几个样品电势作对比时，最好同一批测试，避免客观因素的影响。
技术顾问
赵工 15757137609
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