原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是一种高分辨率成像技术，利用一个非常尖锐的探针（通常为硅或硅氮化物制成）扫描样品表面，探针与样品表面之间的相互作用力（如范德华力、磁力、静电力等）会引起探针的微小位移。探针的位移通过激光反射或压电陶瓷传感器测量，并通过反馈控制系统调整探针的位置，保持恒定的相互作用力，从而获得样品表面的形貌信息。

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy, SEM）是一种利用电子束扫描样品表面，通过样品与电子束相互作用产生的信号来获取样品表面形貌和成分信息的高分辨率显微镜，主要用于研究材料的微观结构、元素分析、表面形貌观察等。

电子背散射衍射（Electron Backscattered Diffraction，简称EBSD）是一种在扫描电子显微镜（SEM）上应用的晶体学分析技术，当电子束与样品相互作用时产生的背散射电子，电子束照射到样品表面时，样品中的原子会散射这些电子，产生衍射花样，从而对晶体快速而准确的进行取向测量的分析工具，主要用于表征材料的微观结构，包括晶体取向、晶粒大小、晶界类型以及相分布等。

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种使用透射电子束来获取样品内部结构图像的高分辨率显微镜，广泛应用于材料科学、生物学、化学、地质学等领域，用于研究材料的微观结构和性质。

电子探针（Electron Probe Micro-Analyzer, EPMA）是一种高分辨率的显微分析技术，它利用聚焦的电子束与样品相互作用产生的特征X射线来分析样品的化学成分，当高能电子束撞击样品表面时，样品原子的内层电子会被击出，产生空位，外层电子跃迁填补这些空位时会发射出特征X射线，这些X射线的能量与发射它们的元素种类有关，因此可以定性和定量分析样品中的元素成分。

原子力显微镜（AFM）是一种高分辨成像技术，将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间

环境扫描电镜（ESEM）利用电子束扫描样品表面，并通过相互作用获取样品信息。与传统扫描电镜不同，ESEM可以在无需真空条件下工作，使样品保持在接近自然状态的环境

当X射线照射到晶体上时，由于晶体中原子排列的周期性，X射线会发生衍射现象，衍射图样反映了晶体中原子排列的周期性信息。极图是指晶体在不同取向下X射线衍射强度的分布

是一种具有正像立体显微镜，被广泛地应用于材料宏观表面观察、失效分析、断口分析等工业领域.样品要求：块体样品，长宽高不超过50*50*50mm

金相显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品，可以在计算机上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分

可提供不同特征峰的强度分布等测试样品要求：1.样品要求:粉体样品10mg以上;块体样品尺寸建议不要太大，不得小于1*1mm，不得大于5*5cm;2测试拉曼map

进行材料表面三维形貌成像及分析、材料表面粗糙度分析、表面轮廓线分析。