X射线光电子能谱（XPS）是一种表面分析技术，它使用具有一定能量的X射线照射固体样品，光子被吸收后将其能量转移给原子的电子，电子获得能量后发射出来成为光电子，测量从材料表面发射出的光电子的能量来确定样品的化学成分和元素的化合状态，同时还可以进行半定量分析和深度剖析。

1.测试内容：常规全谱+精细谐、俄歌谱、价带谱、深度溅射、Mapping,角分辨、微区和原位；

2.样品要求：粉末样品提供20-30mg，量少请用铝箔纸包好再装到管子里寄送；块状/薄膜：长宽厚不超5*5*3mm。如果样品尺寸大于5*5*3mm，会按尺寸增加费用（需标记清楚测试面）；

3.测试说明：原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号！元素窄谱测试默认测最强峰轨道，H、He元素不可以测试，放射性元素请提前沟通。如有特殊要求请备注；

4.测试位置数量：默认是一个样品测试一个位置，需要测试多个位置按照多个样品计费。薄膜、块体等样品，若样品表面组分不均匀，会造成测试结果的差异；

5.特殊需求：样品含S、F、I、Br、Hg、Cl、P等元素单质不能测试；

6.样品包装要求：样品制备好以后，尽可能进行真空密封，减少样品吸附空气中的污染物，对于某些元素的测试，比如常见的C、O，会有影响。

7. 测试默认单色化Al靶（Al Kα source）。

8.材料必须是无放射性、无毒性、无挥发性物质；磁性样品请务必备注，以免对仪器造成损害，含有Fe、Co、Ni元素默按磁性样品处理，如有异议请在送样前沟遥说明