X射线光电子能谱（XPS）是一种表面分析技术，它使用具有一定能量的X射线照射固体样品，光子被吸收后将其能量转移给原子的电子，电子获得能量后发射出来成为光电子，测量从材料表面发射出的光电子的能量来确定样品的化学成分和元素的化合状态，同时还可以进行半定量分析和深度剖析。

X射线衍射仪（X-ray Diffraction, XRD）是一种用于分析材料晶体结构的重要仪器。当X射线照射到晶体材料时，如果晶体的原子排列满足布拉格定律（nλ = 2d sinθ），X射线会被散射并在特定角度上产生相长干涉，形成衍射峰。 布拉格定律：描述了衍射条件的数学关系，其中n是衍射级数，λ是X射线的波长，d是晶体中相邻晶面之间的距离，θ是入射X射线与晶面的夹角。XRD通过测量不同角度下的衍射强度，可以得到衍射图谱，该图谱包含了材料晶体结构的关键信息。通过分析衍射图谱，可以确定材料的晶格参数、晶体取向、晶粒大小和晶体缺陷等。

燃烧-离子色谱法，样品经燃烧分解后产生的气体被吸收液吸收后，再用离子色谱测定的方法。对可热解或可燃有机基质样品中氟、氯、溴、碘、硫进行准确定量分析。样品要求可热

采用了同人舌头味觉细胞工作原理相类似的人工脂膜传感器技术，可以客观数字化的评价食品或药品等样品的六味：咸味、鲜味、甜味、苦味、涩味、酸味。其中涩味包含涩味回味，

采用国标测试：GBT212-2008煤的工业分析方法，分析测试样品中的水分、挥发分、灰分和固定碳样品要求：3g以上，尽量送粉末状样品，块状样品尺寸过大可能导致处

卡尔费休水分测定法，已被很多国际标准，如ISO，ASTM，DIN，BS，和JIS等公认为准确性最高的方法。适用于各种物质水分含量的测定。是目前最值得信赖的水分分

原子荧光光谱(AFS)是是介于原子发射光谱和原子吸收光谱之间的光谱分析技术，基于原子在辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的方法；AFS具有很高的灵敏度，校正

提供各种无机材料、钢铁、有色金属、硬质合金陶瓷材料中宽范围的氧氮氢同时测定。样品要求：块体直径5mm以内，厚度2mm以内(米粒大小)，重量大于1g(金属类块体样

碳硫分析仪可做钢铁、矿石、金属成品及其他无机材料中碳硫含量分析。样品要求：粉体不少于0.5g(最优);块体直径5mm以内，厚度2mm以内(米粒大小)，重量大于1

摇摆曲线测试也叫做w扫描，是一种测试某个晶面在样品中角发散大小的测试方法样品要求：样品尺寸要求：块体，尺寸大于4x4mm，厚度小于3mm；粉末不能做摇摆曲线

火花直读光谱仪是用电火花的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征谱线，每种元素的发射光谱谱线强度正比于样品中该元素的含量，用光栅分光后成为

1.XPS深度剖析可测试元素沿样品深度上的含量变化;计时收费2.XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号3.测试默认单色化Al靶(A