绝缘材料介电性能测试可以通过测试CP-D、介电频谱、介电温谱来得到介电常数和介电损耗的数据。介电常数反映的是材料的介电性质或极化性质，通常用e来表示。不同用途的压电元器件对压电材料的介电常数要求不同。介电损耗指的是电介质在电场的作用下，由于电极化弛豫过程的漏导等原因在电介质内所损耗的能量。

样品要求

安捷伦4294A、4980A：直径或长宽20mm以内，厚度2mm以内，尽量不要太大；以上两台设备只能测试介电常数和介电损耗，无法得到磁导率,
E4991A：介电常数、磁导率均可测试，磁导率尺寸8mm*18mm圆环，厚度小于3.5mm；介电常数样品尺寸不小于20mm*20mm的圆片或正方形，厚度小于3.5mm;
粉末样品可自行压片，要求压片紧实，避免破碎，实验室亦可提供压片与烧结服务，需提供具体的工艺，具体费用请咨询技术顾问老师。样品要求上下表面平整，否则会有误差。
块体样品如需要提供其他处理工艺可提前咨询告知
粉末样品提供1g以上，如果压片后需要烧结的需要提前告知，并提供烧结工艺(烧结根据具体工艺需要额外收费)，不告知默认压片后直接测试
测试条件中“室温测试”非精准的25℃，如果需要精准的25℃需要在下单时选择“高温测试”；高温测试中测试温度不得高于样品熔点以下50℃若因隐瞒信息导致设备损坏，需要承担相应责任。