可提供光催化产氧，产氢，CO2还原等光催化测试样品要求粉末样品需要5-100mg不等，需要根据实验条件准备液体、块状等样品需要具体沟通易挥发的有机大分子材料不测

气敏性能测试主要用于检测材料气敏性，气敏性是材料在通入某气体(如乙醇，甲烷，氢气等)后发生的变化，而变化程度越大，说明气敏性越好；气敏性能测试一般可以得到响应及

反射率测试附件很多，根据需求可以用镜面反射，也可以用漫反射。在此基础上，增加球积分减少反射损耗。具体采用哪种，需要根据样品情况合理选择发射率=1-透过率-反射率

表面光电压法(surfacephotovoltagemethod)，简称SPV法，通过测量由于光照在半导体材料表面产生的表面电压来获得少数载流子扩散长度的方法。

雾度是由于光的漫射效果产生的一种浑浊的云雾状外观，它通常用漫反射的光通量与透过材料的光通量之比的百分率表示，是表示材料透明性的重要参数之一。所以雾度并没有具体的

塞贝克系数和电导率样品要求不测试粉末样品薄膜:(0.5-1mm)*(2-5mm)*(10-18)mm圆柱形或棱柱形样品:直径2-4mm,长度6-23mm块状样品

压电常数d33是压电陶瓷重要的特性参数之一，它是压电介质把机械能(或电能)转换为电能(或机械能)的比例常数，反映了应力或应变和电场或电位移之间的联系，直接反映了

铁电性能测试可以得到电滞回线、电致应变、漏电流测试以及直流/交流击穿电压样品要求块体样品长宽或直径10-20mm左右，厚度小于1mm镀电极方式：针对金属、陶瓷等

VSM适用于强磁样品，弱磁建议用PPMS测试VSM是振动样品磁强计(VibratingSampleMagnetometer,简称：VSM)它的主要功能是测量材料

绝缘材料介电性能测试可以通过测试CP-D、介电频谱、介电温谱来得到介电常数和介电损耗的数据。介电常数反映的是材料的介电性质或极化性质，通常用e来表示。不同用途的

综合物性测量系统PPMS的设计理念是在一个完美控制的极低温(50mK)和强磁场(±16T)平台上，集成全自动的磁学、电学、热学和形貌，甚至铁电和介

1、样品要求： 同轴模式，粉体样品，准备100mg以上，说明样品与石蜡混合比例，或直接提供同轴环（内径3.04mm，外径7.0mm，厚度2mm内）； 波导模式：不同频段样品尺寸要求不同，具体要求如下； 8.2-12.4 GHz：22.86*10.16 mm；12.4-18.0 GHz：15.90*8.03 mm；18.0-26.5 GHz ：10.95*4.50 mm；26.0-40.0 GHz：7.15*3.60 mm；厚度2-5mm；注意：软质的薄膜，尺寸尽量在20*30mm以上，否则影响测试结果； 弓形模式：长宽 180mm*180mm或360mm*360mm； 自由空间法： 200*150mm或 100*100mm，样品尺寸务必严格，否则影响测试结果； 谐振腔模式：长宽30*50mm，厚度需自己测量准确（小于0.5mm）。样品尺寸务必严格，否则影响测试结果； 2、同轴模式注意：样品与石蜡混合比例对测试结果有一定影响，请务必确认好混合质量比，一般来说金属样品占比70%，非金属样品占比30%，石墨烯样品占比10%，同时还需要考虑样品本身性质确认混合比例如导电性等，如不提供，按默认比例（50%）先测试，请保证按该比例混合的量足够制备要求尺寸的同轴环；另外实验室只能按质量浓度配比制样。 3、 波导模式注意：尺寸要求较高，由于加工过程不佳而避免会引起误差，如果样品材质可使用砂纸打磨，建议稍微比标准尺寸大些，由测试老师打磨后测试，若过小，则会产生一定误差；如无法用砂纸打磨，建议客户加工时拿波导片去加工好刚好能塞进波导片的尺寸再寄出，以免耽误周期； 4、弓形法测试注意：测试角度对数据具有一定的影响，下单前请核实好测试角度。实验室可测试角度范围为8-75°，默认测试角度为8°。 5、如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问