表面光电压法(surface photovoltage method)，简称SPV法，通过测量由于光照在半导体材料表面产生的表面电压来获得少数载流子扩散长度的方法。原理是: 用能量大于半导体材料禁带宽度的单色光照射在半导体材料表面，在其内部产生电子-空穴对，受浓度梯度驱动扩散至半导体材料近表面空间电荷区的电子和空穴将被自建电场分离，形成光生电压，即表面光电压。根据表面光电压与入射单色光的光子流密度、波长、材料对光的吸收系数和少子扩散长度之间的关系可得到少子扩散长度，进而可以获得少子寿命

样品要求

粉末材料：堆积体积不少于0.3ml；需研磨成细小颗粒，样品装在玻璃瓶或塑料管中，请勿放在样品袋中，以避免静电影响取样

薄膜材料：要求有一定厚度面积最好为20mm*5mm~~40mm*15mm，类似于电化学工作电极需要预留出一段空白导电玻璃

半导体以及晶体测试需要提前引出阴阳极接头。（薄膜，半导体、晶体只能测试表面光电压）

稳态测试告知扫描速度及测试范围，大致激发波长；瞬态告知激发波长和大致激发强度。