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飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
仪器型号：
TOF.SIMS 5，PHI nanoTOF II
预约次数：375次
服务周期：8个工作日
项目介绍TOF-SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。
工作原理
1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程称为粒子溅射。在一次离子束轰击样品时，还有可能发生另外一些物理和化学过程：一次离子进入晶格，引起晶格畸变；在具有吸附层覆盖的表面上引起化学反应等。溅射粒子大部分为中性原子和分子，小部分为带正、负电荷的原子、分子和分子碎片；
4. TOF（Time of Flight）的独特之处在于其离子飞行时间只依赖于他们的质量。由于其一次脉冲就可得到一个全谱，离子利用率最高，能最好地实现对样品几乎无损的静态分析，而其更重要的特点是只要降低脉冲的重复频率就可扩展质量范围，从原理上不受限制。
样品要求
1、粉末样品50mg
2、块状样品长宽1*1cm以内，厚度5mm以内（标记清楚测试面和测试位置）
3、粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄，粉末样品一般不做深度剖析，只做质谱和mapping。
3、如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系您专属技术顾问，需要真空封装好提前预约时间测试。
4、样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性。
5、建议样品用干净的玻璃瓶盛装或铝箔纸包装，不要用有黏性的塑料袋/膜，或者粘胶，否则会有硅油在样品表面，会遮盖样品表面的信息，TOF测试1-2nm的信息，对表面测试非常灵敏，如因包装问题导出样品表面污染测试出污染的信息，不做处理。
结果展示
常见问题-
在TOF-SIMS测试中，如果需要同时测试正负离子，那么需要分别使用不同的样品进行测试吗？
可以在同一个样品上选取不同的区域进行测试吗？ 如果是测试质谱和二维成像，因为没有损伤，可以选取同一个位置进行测试，且采集完正离子后可以继续采集负离子信息；如果是做深度分析，则可以在同一个样品上选取不同的区域，分别测试正离子和负离子。
技术顾问
赵工 15757137609
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