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同步辐射小角散射 SAXS/GISAXS
仪器型号：
第三代同步光源
预约次数：379次次
服务周期：20个工作日
项目介绍同步辐射小角散射（SAXS/GISAXS）测试技术相较于台式仪器，具有更高的光源亮度和平行度，可调的X射线能量，以及更好的时间分辨率，适用于快速、高精度地研究材料结构，特别适合于动态过程和精细结构的分析。该方法无破坏性，能快速获得高分辨率结构信息，有效指导材料设计与性能优化。SAXS/GISAXS可解决关键问题如纳米颗粒尺寸分布、蛋白质结构等，为科研和工业生产提供重要信息。
样品要求
粉末：20mg（只做透射，粉末需研磨）
薄膜：长宽1cm（提供空白衬底）
块体：长宽1cm（基底最好为硬质无机基片）
液体：2ml（测试默认二维面探测器）
结果展示
常见问题-
1. SAXS和GISAXS的相同点是什么？
基本原理相同，均是利用X射线散射原理来获取物质内部结构信息，通过分析散射图案可以推断出样品的内部结构信息。
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2. SAXS和GISAXS的不同点是什么？
SAXS采用正入射，而GISAXS采用掠入射；SAXS比较适用于块体材料，可用于研究纳米至亚微米尺度的物质结构，解决诸如蛋白质折叠、聚合物形态、纳米颗粒大小和形状等问题；GISAXS在垂直方向上具有更高的空间分辨率，其更适用于表面和界面科学研究,专注于表面和界面结构分析，能解决薄膜生长模式、界面粗糙度、纳米结构排列等难题。
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7. 样品的状态（粉末，薄膜）对测试结果会有影响吗？
粉末和薄膜有不同的测试方式，粉末一般是进行透射测试，而薄膜可以进行透射和掠入射两种测试模式，可以自行根据所需信息选择测试方式。
技术顾问
赵工 15757137609
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