
正电子湮灭

DPLS3000

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正电子湮没技术(Positron Annihilation Technique,PAT),是一项较新的核物理技术,它利用正电子在凝聚物质中的湮没辐射带出物质内部的微观结构、电子动量分布及缺陷状态等信息,从而提供一种非破坏性的研究手段而备受人们青睐。现在正电子湮没技术已经进入固体物理、半导体物理、金属物理、原子物理、表面物理、超导物理、生物学、化学和医学诸多领域。特别是材料科学研究中,正电子对微观缺陷研究和相变研究正发挥着日益重大的作用
样品要求
最佳样品尺寸12×12×2mm或直径12×2mm(边长/直径>10mm,厚度>1mm)。
一组样品要同样的2片;不同样品尽量保持在同一压力下进行压片(压片后手轻捏不松散就可以了)。
粉末的样品量需要能压成直径大于10mm,厚度大于1mm的两个圆片。


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正电子湮灭谱中寿命和浓度代表什么含义,每种寿命对应什么缺陷?
正电子寿命测量的是孔位缺陷的大小和浓度,一般来说短寿命对应的是小空位/单孔位的寿命,中等寿命对应中等空位对寿命/体寿命,长寿命对应大空位团簇/界面的寿命。强度对于的是空位缺陷的浓度,强度越大空位越多。具体哪个寿命代表哪种空位一些是由理论计算算出的,一些是实验推理出来的。
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气体吸附与正电子湮灭测量孔径的区别?
气体吸附主要表征表面缺陷,不能测内部缺陷,与表面积有很大关系;正电子湮灭表征的主要是样品内部缺陷,且测量精度高于气体脱附。

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赵工 15757137609
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