离子减薄常用于材料科学研究中，离子减薄的基本过程是通过高能离子束轰击样品表面，将样品表面原子层逐层剥离，进而得到具有高度平坦度和厚度均匀的材料薄片。减薄后的样品可以应用各种表征，比如扫描电镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、XRD等。

离子减薄过程一般分为穿孔和修整薄区两步。离子束以较大入射角在样品上击穿一个中心孔，然后用较小的入射角度和较低能量的离子束在穿孔边缘进行修整。

样品要求

样品要求：样品直径≥3mm，厚度建议50μm（建议将样品用线切割、砂纸磨等方式处理成薄片）

为保证达到满意的效果，请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求

注意：由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险，所以一般不承接单独离子减薄制样

成功与否的标准是减薄出来的薄片可以达到上机的程度，不保证切的位置一定是您要的形貌或者相，一般离子减薄无法做到定位减薄。