扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy, SEM）是一种利用电子束扫描样品表面，通过样品与电子束相互作用产生的信号来获取样品表面形貌和成分信息的高分辨率显微镜，主要用于研究材料的微观结构、元素分析、表面形貌观察等。

1、粉末、液体、薄膜、块体均可测，粉体10mg以上，蒲膜或块体长宽小于1cm，高度小于1cm，超过该尺寸可能会导致抽真空时间延长，有可能需要加收费用

2、制样说明：粉体样品直接粘到导电胶上测试；液体样品，一般用吸管随机滴到导电胶、硅片或铝结上，如有特殊指定请提前说明；薄膜或块体请标明测试位置，如无备注则随机选点测试。

3、磁性样品请务必备注，以免对仪器造成损害，含有Fe、Co、Ni元素默按磁性样品处理，如有异议请在送样前沟逼说明。

4、前处理方案：直接喷金（常用靶材是纯金（Au）、纯铂（Pt）、金钯合金（Au/Pd），如指定时长请写明），乙醇分散，液氮脆断等。具体测试内容：形貌，能谱点扫，能谱线扫，能谱面扫，背散射；

5、如是树脂镶嵌，水泥等样块，可能抽真空时间会较长，送样前建议做一下烘烤。如若在测试过程中出现抽真空时长异常，会及时反馈客户，若继续测试，则抽真空占用机时需额外收费。