椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、n（折射率）,k（消光系数）以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。

样品要求

1、可测试：块状、薄膜；大小无特殊要求
2、单层膜样品，没有基底，膜厚越厚越好，最好500um以上
3、有基底的膜层结构要做折射率和消光系数，基地厚度要求越厚越好，膜层厚度要在10um以下
4、膜层需为透明薄膜且膜层表面均匀，基底不需要透明；确保被测表面光滑，测试时能有反射光束被接收，否则测不了。送样前可以通过激光笔照射样品表面，能观察到有反射光束方可
5、如果被测样品是透明块体（不是膜），底面需要经过打磨成毛玻璃状，防止反射光
6、确保被测区域面积大于5mm²
7、有基底的样品需提供一份空白基底方便拟合。基底若需要单独测试，请在备注中说明，否则会选用数据库中的基底数据进行分析。基底测试需要收取一定的费用，具体和您专属技术顾问沟通
8、特殊情况请提前和您专属技术顾问沟通

测试结果给出的是图片格式和txt格式测试结果（不同仪器会有差异，以实际结果为准）