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椭偏仪
仪器型号：
HORIBA France SAS椭圆偏振光谱仪，美国-J.A.Woollam-M-2000V，Accrion/Nanofilm EP4SE，Horiba Uvisel Plus等
预约次数：994次次
服务周期：7.0个工作日
项目介绍椭圆偏振主要用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构，通过精确测量薄膜样品的椭偏参数,经过后期数学处理、模拟和拟合，从而推导出多层结构、均匀和非均匀结构的厚度、光学常数（折射率，消光系数）、组分以及其他相关参数。
结果展示
常见问题-
1
椭偏仪可以测量哪些参数？利用椭偏仪测量薄膜参数，测量得到是的反射光的偏振状态（振幅和相位）通过软件建立一定的模型，膜厚，折射率，消光系数等参数时一并可以得到；
椭偏仪适用于哪些材料的测试？椭偏仪适用于无机材料，样品有一定透光性；
