X射线衍射仪（X-ray Diffraction, XRD）是一种用于分析材料晶体结构的重要仪器。当X射线照射到晶体材料时，如果晶体的原子排列满足布拉格定律（nλ = 2d sinθ），X射线会被散射并在特定角度上产生相长干涉，形成衍射峰。

布拉格定律：描述了衍射条件的数学关系，其中n是衍射级数，λ是X射线的波长，d是晶体中相邻晶面之间的距离，θ是入射X射线与晶面的夹角。XRD通过测量不同角度下的衍射强度，可以得到衍射图谱，该图谱包含了材料晶体结构的关键信息。通过分析衍射图谱，可以确定材料的晶格参数、晶体取向、晶粒大小和晶体缺陷等。

1.测试内容：常规小角、广角、变温、电化学、毛细管、微区、掠入射、二维、织构和残余应力；

2.样品要求：样品可为粉末、块状、薄膜、液体样品。粉末样品：样品量最好50mg以上(少一点也可以做，信号相对会弱一些)。块状、薄膜样品:尺寸要求：长x宽<15x15mm，高<5mm，一定要标明测试面，如无备注则随机选面测试；若为立方体则需要3个晶面才可分析出全套数据，密排六方需要4个晶面才可分析出全套数据。液体：1mL~10mL，样品无挥发性、腐蚀性；

3.样品如果含有放射性元素如U、Th、Ra等，请联系项目经理确定是否可测！

4.实验室一般默认测试的步长为0.02，有其它步长要求请提前说明。