对于很薄的薄膜，常规xrd很难得到薄膜的信号，此时可选用掠入射XRD。掠入射是一种让X射线掠过样品表面的技术，测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底.

样品要求

块体/薄膜：在1x1cm到1.8x1.8cm，整体厚度不超过5mm，不同的测试仪器要求的尺寸会有所不同，如有其他尺寸，可联系项目经理沟通确认
掠入射一般针对薄膜和涂层样品，入射角度选择会显著影响测试结果，请参考文献选择
样品尺寸太小，厚度太薄，可以上机，无法保证数据质量。(请提供基底信息，若有常规测试谱图请提供)
请确保测试的样品表面光滑平整，测试区域边缘处不要有遮挡，掠入射是平行光源，一旦有遮挡便会测到基底的信号，很容易遮盖需要测试物质的信号
样品寄送时请用软材料包装好避免快递运输过程中损坏