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掠入射XRD (GIXRD)
仪器型号：
日本-Rigaku-SmartLab，荷兰 Malvern Panalytical X 'Pert3 Powder，德国BRUKER ADVANCE，德国-布鲁克-Bruker D8 Advance，等
预约次数：1379次
服务周期：6个工作日
项目介绍常规XRD采用的是X射线直射样品，由于X射线的穿深较大，对有基底的薄膜样品，薄膜的峰经常被基底的峰掩盖，掠入射采用与样品近似平行的入射角度，使X射线仅照射在样品表面，着重关注薄膜样品的信号，规避基底信号。
样品要求：
待测样品表面需光滑且平整，测试区域不要有遮挡。块体要求(在1x1cm到1.8x1.8cm)，整体厚度不超过5mm，薄膜层尽量均匀
结果展示
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