二维广角X射线衍射（2D-WAXD）在X射线行射实验中使用二维探测器，并对中二维探测器记录二维象、二维衍射花样的数据进行处理分析和解释的X射线衍射方法；一般用于研究材料的取向。可通过2D-XRD复现常规XRD的结果，也可以通过方位角曲线计算材料的取向度

样品要求

1、基本用途：纤维、薄膜样品的取向分布、晶格畸变、晶畴尺寸等结构特征的分析
2、薄膜（片状）样品：一般情况，宽0.7 cm，长2.5 cm，厚度低于5mm。如果样品不充足的情况，可制成宽0.7 cm，长0.7 cm，厚度低于5mm
3、粉末样品：需自己制样后邮寄，垫片和高温胶自行网上购买
4、纤维样品：直径平铺大于或者等于3mm，长度最好是2.5-3.0cm，样品不足，可以1.5c；最好整齐扎成一束，长度可以长些
5、收费说明：对于块体样品，一个方向算一个样，多个方向，费用是乘以相应的个数。对于粉末样品，高温胶背景按照1个样品计算。如果是很多样品，只做一个背景就可以，这个指的是同一次测的样品，因为背景的条件需要和样品的一模一样。标样（Si或CeO2或山嵛酸银）数据免费提供，空白背景数据需要按一个样收费。

1、Xenocs型号结果

（1）样品测试数据+CeO2标样数据+空白背景数据

（2）提供测试信息，txt文本

2、HomeLab型号结果

（1）样品测试数据+Si/山嵛酸银标样数据

（2）提供测试信息，txt文本