紫外光电子能谱（UPS）是一种表面分析技术，用于研究材料的价带结构和表面电子性质。UPS利用紫外光照射样品表面，使价带中的电子获得能量并从样品表面逃逸出来，成为光电子。通过测量这些光电子的能量，可以了解样品的价带结构。UPS可以提供价带态的直接图像，有助于理解材料的电子性质和化学性质；UPS对表面态敏感，可以用于研究表面杂质、缺陷、吸附原子等对电子结构的影响，为研究材料的价带电子结构和表面电子性质提供了直接的信息。

与X射线光电子能谱（XPS）相比，UPS使用的是紫外光源，分析深度较浅，更适合表面和界面电子结构的研究。

1.样品最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料，表面必须平整无污染，尺寸必须大于5*5mm-小于10*10mm左右，厚度小于2mm；

2.UPS测试表面1-2nm信息，表面吸附的碳氧会影响测试结果，建议暴露空气中的样品选择用离子源清洁后测试，数据更加准确；

3.粉末样品建议使用旋涂法制备样品要求是基材材质为ITO、FTO、单晶硅片等半导体材料，且表面导电性连续，不能使用刻蚀后基材制样；

4.粉末样品需要制样，使用旋涂法制样，需要制备1cmX1cm的薄片，请提供2ml体积的样品量。粉末样至少20mg（粉体样品不建议直接测试，可旋涂制备成薄膜后送样；目前无法委托制样，若需旋涂制样或者粉末压片，请自行制好样再送样）。