透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种使用透射电子束来获取样品内部结构图像的高分辨率显微镜，广泛应用于材料科学、生物学、化学、地质学等领域，用于研究材料的微观结构和性质。

1.粉体、液体、可直接送样测试；块体/薄膜可制样后测试（离子减薄，F1B或包埋切片等），样品的厚度不超过100nm：形貌、衍射、能谱（点扫、线扫和Mapping）、STEM和电子能量损失谱（EELS）

2.样品要求：

安全性：无毒、无放射性；

是否含有有机物：有机物在高压下不稳定，拍摄过程中极易被打散，样品被打散的同时会污染到仪器，如需拍摄，请务必与工作人员确认。带有机物的样品，无法拍摄mapping，请在预约的时候不要选择此选项。

磁性样品请务必备注（颗粒大小不超过200nm），以免对仪器造成损害，含有Fe、Co、Ni元索默按磁性样品处理，如有异议请在送样前沟通说明。

3. 制样载网的选择：普通碳膜，适用拍摄低倍材料或生物样品；超薄，适用量子点、小颗粒等尺寸较小材料；微栅，适用500nm以上管状、棒状、纳米团聚物样品；钼网，适用于含Cu样品能谱采集。