原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是一种高分辨率成像技术，利用一个非常尖锐的探针（通常为硅或硅氮化物制成）扫描样品表面，探针与样品表面之间的相互作用力（如范德华力、磁力、静电力等）会引起探针的微小位移。探针的位移通过激光反射或压电陶瓷传感器测量，并通过反馈控制系统调整探针的位置，保持恒定的相互作用力，从而获得样品表面的形貌信息。

1.测试内容：粗糙度、表面形貌,、杨氏模量、力曲线、开尔文探针KPFM、压电力显微镜PFM、静电力显微镜EFM、侧向力显微镜LFM、导电力显微镜C-AFM、磁力显微镜MFM；

2.样品状态：可为粉末、液体、块体、薄膜样品；粉末样品：颗粒不超过5um，10mg以上。薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.2-2cm之间，厚度0.1-0.5cm之间一定要标明测试面!液体不少于1mL；

3.粉末/液体样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度。