电子背散射衍射（Electron Backscattered Diffraction，简称EBSD）是一种在扫描电子显微镜（SEM）上应用的晶体学分析技术，当电子束与样品相互作用时产生的背散射电子，电子束照射到样品表面时，样品中的原子会散射这些电子，产生衍射花样，从而对晶体快速而准确的进行取向测量的分析工具，主要用于表征材料的微观结构，包括晶体取向、晶粒大小、晶界类型以及相分布等。

1.测试内容：极图、反极图、取向成像图、取向分布函数图（ODF）、取向差分布图、晶粒尺寸分布图、相图、花样质量图、晶界等；

2.尺寸要求：试样尺寸大小不得超过直径25mm，厚度不得超过10mm。最优：长宽在7×7mm到10×10mm之间，厚度不宜过厚，一般在1-3mm间（寄样时请务必标记测试面）；

3.样品要求：测试面需要平整、清洁、光滑无划痕，已抛光处理，无残余应力，导电性良好；制样+测试的样品要求：测试面平整，机械抛光好，导电性良好，其他特殊需求提前沟通，（如陶瓷导电性不好的，需要喷碳后做）；

测试样品要导电，镶嵌的样品可以通过导电胶连接基座来处理，不导电的试样需要喷金或喷碳；电解抛光、震动抛光及氩离子抛光之前均需进行机械抛光；

4.下单前请将样品的状态（退火态、变形态、固溶态等）向技术顾问说明，技术顾问会根据实际情况推荐适合的制样方式，变形态的材料制样难度较高，不保证一次成功，具体收费方案请询问您的技术顾问。